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互换性与技术测量第2版

《互换性与技术测量第2版》是2009年北京理工大学出版社出版的图书,作者是魏斯亮、李时骏。

  • 书    名 互换性与技术测量第2版
  • 作    者 魏斯亮 李时骏
  • 出版时间 2009年08月
  • 出版社 北京理工大学出版社

图书简介

  ISBN:9787564012588 [十位:7564012587]

  页数:245 重约:率的帮0.378KG

  定价:¥30.00

  旧书普通用户价:¥11.40 为您节省:¥18.60

  旧书来自VIP用户价:¥10.30 为您节省:¥19.70

  团购优惠价:¥9.70

内容提要

  本书系统地介360百科绍了互换性与技术六环医测量的基础知识,包括互换性与标准化,极限与配合,形状和位置公差,是未胞化农校玉决古表面粗糙度标准,技术测量基础知识,普通螺纹的公差与配合等内容。

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